耐熱性と剥離技術により
新しい半導体プロセスを実現する「SELFA™」

SELFA™ってなに?

SELFA™は高い接着性を持ちながら、簡単な剥離を可能にした優れたテープです。UV照射でテープと被着体間にガスが発生し、密着力をゼロにさせ、容易に剥がすことができます。

Point!

薄く研磨されたウェハ等にもダメージ無く加工が可能です。

SELFA™のイメージ写真

SELFA™はどんな時に使われる?

主に半導体向けウェハ・チップ製造時に使用されているSELFA™。現在はパッケージ製造、ウェハサポート、めっき工程などの様々なプロセス向けに3種類の製品をラインナップしています。

Point!

片面・両面など用途に応じてご提案いたします。

SELFA™のラインナップ
【SEKISUI】半導体工程用UV剥離テープ SELFA™

SELFA™のコア技術

高耐熱の仮固定材を探している

矢印
耐熱性のイラスト

耐熱性

  • 業界を圧倒する260°C耐熱仕様
  • リフローなど新工程への適用

ウェハへのダメージが心配

矢印
軽剥離のイラスト

軽剥離

  • ガス発生剥離技術によるダメージレス剥離
  • 超薄デバイスへの適用

熱工程時の残渣を無くしたい

矢印
低残渣のイラスト

低残渣

  • Pre UV技術による残渣レス
  • 幅広いプロセスウィンドウ

SELFA™の剥離技術

SELFA™の剥離デモ動画

繊細なウェハ表面を傷つけることなく、容易な剥離を可能にする他社製品にはない高度技術をご覧いただけます。

二段階UV照射

1Pre UV硬化
Pre UV硬化のイラスト

従来のUVテープの粘着力は熱処理中に上昇し、UV後もあまり低下しないため、剥離しにくく、残渣の問題も発生していました。

SELFA™はPre UVで粘着層を硬化させる事で粘着力を大幅に低下、熱処理による粘着力上昇も少ない事で剥離が容易になり、残渣の減少を実現しました。

2ガス発生
ガス発生のイラスト

UV処理中に、SELFA™とガラスキャリアの間に窒素ガスが発生。ガスの領域が拡大し、最終的には全体に広がります。

UV処理後、キャリアガラスはほとんど力を使わずに簡単に取り外すことができます。

SELFA™と液体材料のプロセス比較

SELFA™の使用により接着・剥離プロセスの大幅短縮が可能です

プロセス手順

SELFA™

SELFA™の接着のイラスト
SELFA™のボンディングのイラスト
SELFA™のデボンディングのイラスト
SELFA™の剥離のイラスト

製品開発ストーリーSEKISUIProduct Development Story

「接着と剥離」の革新的技術で
半導体プロセスの進化を支え続けるSELFA™

高機能プラスチックスカンパニー開発研究所 元所長
(2019年に定年退職)
現 サイエンス・ラボ 礎 代表

中壽賀 章なかすが あきら

高機能プラスチックスカンパニー開発研究所
エレクトロニクス材料開発センター主任技術員

髙橋 駿夫たかはし としお

SELFA™ラインナップ

両面耐熱SELFA™ HWシリーズ

バックグラインディングダイシング工程

両面耐熱SELFA™ HWシリーズのイラスト
  • 優れた耐熱性、耐薬品性
  • ガス発生によりダメージレス剥離
  • テープ式ガラスサポート
    →ハンドリング性向上
製品詳細はこちら

片面耐熱SELFA™ HSシリーズ

熱・薬品工程時のデバイス保護熱工程時の反り抑制

片面耐熱SELFA™ HSシリーズのイラスト
  • 優れた耐熱性、耐薬品性
  • 強粘着+低残渣の両立
製品詳細はこちら

片面自己剥離SELFA™ MPシリーズ

めっき工程時のデバイス保護

片面自己剥離SELFA™ MPシリーズのイラスト
  • UV自己剥離機能
    →めっき後の容易な剥離
製品詳細はこちら

SELFA™の性能比較表

製品/条件 両面耐熱 SELFA™ HWシリーズ 片面耐熱 SELFA™ HSシリーズ 片面 SELFA™ MPシリーズ
耐熱性 260°C / Reflow 250°C / Reflow 80°C / 30min.
220°C / 2hr 220°C / 2hr
接着強度(N/インチ)
初期 → Pre UV
ウェハ側 SUS: 10.50.01 SUS: 3.830.08 SUS: 17.50
Si: 0.080.02 Si: 0.060.02 Si: 16.10
- Cu: 4.510.10 Au: 13.50
キャリア側 Glass: 0.06<0.01 - -

用途例&適用プロセス

CMOSイメージセンサのイメージ写真

CMOSイメージセンサ

  • 両面耐熱
    SELFA™ HW
積層型メモリのイラスト

積層型メモリ

  • 両面耐熱
    SELFA™ HW
  • 片面耐熱
    SELFA™ HS
通信モジュール(SiP)のイラスト

通信モジュール(SiP)

  • 片面耐熱
    SELFA™ HS
アプリケーションプロセッサ(FOWLP)のイラスト

アプリケーションプロセッサ(FOWLP)

  • 両面耐熱
    SELFA™ HW
  • 片面耐熱
    SELFA™ HS
部品内蔵基板のイラスト

部品内蔵基板

  • 両面耐熱
    SELFA™ HW
  • 片面耐熱
    SELFA™ HS
  • 片面
    SELFA™ MP
パワー半導体のイラスト

パワー半導体

  • 片面
    SELFA™ MP

両面SELFA™のプロセス自動化

完全自動化プロセスに対応し、生産性向上・環境負荷低減に貢献

装置メーカーとの提携により、完全自動化ラインの構築が可能。大幅な生産性向上と環境負荷低減が実現できます。

装置紹介

ウェハボンディング装置の写真
①ウェハボンディング装置
株式会社タカトリ
WSM-200B
ウェハデボンディング装置の写真
②ウェハデボンディング装置
株式会社タカトリ
WSR-200

SELFA™のリユース対応

従来の2倍のリユースでSDGsに配慮

キャリアガラスの再利用

SELFA™を使用する事でキャリアガラスのへこみがなく、リサイクルにも優れています。

SELFA™ 液体
再利用回数 20回以上 10回以上
ストリッピング方式 UVランプ
UVレーザー
各種レーザー
リユース方法 主に溶剤洗浄 溶剤洗浄、研磨など
レーザーアブレーション時の
ガラスへのへこみ
なし
SELFA™のレーザーアブレーション時のガラスへのへこみの写真
あり
液体のレーザーアブレーション時のガラスへのへこみの写真
効果 SELFA™によるキャリアガラスのリユース効果の写真
UV剥離によるダメージ軽減
液体によるキャリアガラスのリユース効果の写真
レーザー剥離によるダメージあり

製品開発ストーリーSEKISUIProduct Development Story

「接着と剥離」の革新的技術で
半導体プロセスの進化を支え続けるSELFA™

高機能プラスチックスカンパニー開発研究所 元所長
(2019年に定年退職)
現 サイエンス・ラボ 礎 代表

中壽賀 章なかすが あきら

高機能プラスチックスカンパニー開発研究所
エレクトロニクス材料開発センター主任技術員

髙橋 駿夫たかはし としお